Phenom ProX는 5세대전경 에너지 스펙트럼 복합기는 * 의 통합 이미징 분석 시스템으로 해상도를 20% 향상시켜 응용 범위를 더욱 넓히고 전자빔에 민감한 샘플에 더욱 적합합니다.이 시스템을 사용하면 시료의 표면 형태를 관찰할 수 있을 뿐만 아니라 그 원소 성분도 분석할 수 있다.샘플을 연구할 때 샘플의 형태 정보를 얻는 것은 절반의 문제만 해결했다.샘플의 원소 성분 정보를 얻는 것도 종종 매우 필요하다.종합적으로 통합된 특수 설계의 스펙트럼 탐지기를 사용하여 페이너전경 에너지 스펙트럼 복합기Phenom ProX는 위의 모든 문제를 완벽하게 해결합니다.분광기는 시료가 전자빔에 의해 자극되어 X선을 생성하는 분석 기기이다.Phenom의 스펙트럼은 소프트웨어, 하드웨어를 막론하고 * 비나에 통합되어 설계되었습니다.Phenom ProX 시스템에서Element Identification(EID) 소프트웨어를 사용하면 사용자가 샘플의 요소 그룹화를 감지하는 다중 분석을 수행할 수 있습니다.또한 이 소프트웨어는 요소 분석 선형 스캔(mapping) 기능으로도 확장할 수 있습니다.단계별 조작 인터페이스는 사용자가 분석 데이터를 더욱 편리하게 수집하고 내보낼 수 있도록 도와준다.