SineImage 통합 테스트 카드 소개

SineImage 통합 테스트 카드 YE05는 TV 카메라의 일반(시각) 평가를 위해 특별히 설계되었습니다.

밀도는 D=0.15에서 D=1.65(명암비 32:1)로 4개 등급으로 나뉘는데 이 테스트 카드의 밀도는 D=0.15등급이다.주변 지역의 밀도는 D~0.75이다.

이 테스트 카드는 주로 전자 카메라의 전송 특성에 대한 평가를 위해 설계되었습니다.원형 그래픽은 스캔의 선형을 대략적으로 평가하는 데 사용됩니다.이미지 2-MHz-line 위치에 분포된 래스터는 선형 모니터링을 수평 및 수직 방향으로 오프셋할 수 있습니다.래스터 사이의 거리는 가능한 한 같아야 합니다.

선로 선택 스위치 오실로스코프의 도움으로 수직 쐐기 그리드를 적용하면 변조 깊이 주파수 응답을 설정할 수 있습니다.기울어진 1-MHz 블록의 신호는 참조 값으로 사용됩니다.쐐기 격자선은 분별 한계에 대한 시각적 평가를 한층 더 내릴 수 있다.또한 직렬 간섭, 오목 필터 및 빗 필터 효과가 관찰 될 수 있습니다.

회색 쐐기 정사각형의 세 대각선에서 선형 인터레이스를 사용하여 검사합니다.행의 계단식 수신은 이중 교수선을 나타냅니다.